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[IQ測試] 芯片测试

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發表於 2016-6-30 21:04:37 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
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芯片测试:有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多.请设计算法从其中找出一片  好芯片,说明你所用的比较次数上限.3 h2 Y- S+ w: f( Y& K1 Q
  其中:好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏.
5 K% e  S3 K; z3 n$ G+ L. k" ^  坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。' Q4 [; k. B. k- l( w& {& y" A' W

9 m$ L, k( L, Z/ n答案:
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